eNauka - pregled
Pregled prema Projekat IMA GmbH
Prikaz rezultata 1 do 2 od 2
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2008 | Non-contact measurement of thickness uniformity of chemically etched Si membranes by fiber-optic low-coherence interferometry![]() | Đinović, Zoran | Поглавље у монографији | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2008 | Non-contact measurement of thickness uniformity of chemically etched Si membranes by fiber-optic low-coherence interferometry![]() | Đinović, Zoran | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
