eNauka - pregled
Pregled prema Autor Balakshin, Yu. V.
Prikaz rezultata 1 do 1 od 1
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2019 | Influence of the Charge State of Xenon Ions on the Depth Distribution Profile Upon Implantation into Silicon | Balakshin, Yu. V.; Kozhemiako, A. V.; Petrović, Srđan M.   ; Erich, Marko ; Shemukhin, Andrey A.; Chernysh, Vladimir S. | Article | 23M23 |