Резултати

еНаука >  Резултати >  Compact Modeling of Irradiation Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Using Artificial Neural Networks
Назив: Compact Modeling of Irradiation Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Using Artificial Neural Networks
Аутори : Mitrovic, Nikola  ; Veljković, Sandra  ; Davidović, Vojkan  ; Stanković, Srboljub  ; Đorić Veljković, Snežana  ; Živanović, Emilija  ; Danković, Danijel  
Година: 2026
Публикација: RAD 2026 : 14th International Conference on Radiation, Natural Sciences, Medicine, Engineering, Technology and Ecology : Book of Abstracts
Издавач: Niš : RAD Centre
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 978-86-901150-9-9 Претражи идентификатор
Колација: str. 131-131
DOI: 10.21175/rad.abstr.book.2026.27.9
URI: https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/17298
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1051863
Пројекат: Ministarstvo nauke, tehnološkog razvoja i inovacija Republike Srbije, institucionalno finansiranje - 200102 (Univerzitet u Nišu, Elektronski fakultet)
AIDA4Edge - Twinning for Excellence in Adaptive Edge AI
Напомена о доступности: Подаци и/или пуни текст су непотпуни
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Creative Commons лиценца