Резултати

еНаука >  Резултати >  Analysis of the influence of structure on mechanical properties of multilayer Ni/Cu thin films for use in microelectronic technologies
Назив: Analysis of the influence of structure on mechanical properties of multilayer Ni/Cu thin films for use in microelectronic technologies
Analiza uticaja strukture na mehanička svojstva višeslojnih tankih filmova Ni/Cu za primenu u mikroelektronskim tehnologijama
Аутори: Lamovec, Jelena  ; Jović, Vesna; Mladenović, Ivana  ; Popović, Bogdan  ; Radojević, Vesna  
Година: 2015
Публикација: Tehnika
ISSN: 0040-2176 Tehnika (Beograd) Претражи идентификатор
Издавач: Beograd, Srbija : Savez inženjera i tehničara Srbije
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 70 br. 6 str. 915-920
DOI: 10.5937/tehnika1506915L
URI: https://cer.ihtm.bg.ac.rs/handle/123456789/1691
http://TechnoRep.tmf.bg.ac.rs/handle/123456789/2928
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/147029
Пројекат: Mikro, nano-sistemi i senzori za primenu u elektroprivredi, procesnoj industriji i zaštiti životne sredine (RS-32008)
М-категорија: 
51M51 - Рад у врхунском часопису нац. значаја

Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI

Unpaywall

Creative Commons лиценца