Резултати
eNauka >
Rezultati >
Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress
| Naziv: | Threshold voltage instabilities in p-channel power VDMOSFETs under pulsed NBT stress | Autori: | Stojadinović, Ninoslav  ; Danković, Danijel  ; Manić, Ivica ; Prijić, Aneta ; Davidović, Vojkan ; Đorić-Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran |
Godina: | 2010 | Publikacija: | MICROELECTRONICS RELIABILITY | ISSN: | 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator |
Izdavač: | United Kingdom : Elsevier Ltd. | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 50 br. 9-11 str. 1278-1282 | DOI: | 10.1016/j.microrel.2010.07.122 | WoS-ID: | 000282607400018 | Scopus-ID: | 2-s2.0-80052917111 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/178570 | Izvor metapodataka: | Migracija | M-kategorija: | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.