Results

eNauka >  Rezultati >  Numerical simulations of N-type CdSe poly-TFT electrical characteristics with trap density models of Atlas/Silvaco
Naziv: Numerical simulations of N-type CdSe poly-TFT electrical characteristics with trap density models of Atlas/Silvaco
Autori: Janković, Nebojša 
Godina: 2012
Publikacija: Microelectronics Reliability
ISSN: 0026-2714 Microelectronics Reliability Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 52 br. 11 str. 2537-2541
DOI: 10.1016/j.microrel.2012.03.031
WoS-ID: 000310767400005
Scopus-ID: 2-s2.0-84867575835
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/180424
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

8
SCOPUSTM
3
OpenCitations
7
WEB OF SCIENCETM
Altmetric
Dimensions
Unpaywall

Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.