Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Consideration of conduction mechanisms in high-k dielectric stacks as a tool to study electrically active defects
Naziv: Consideration of conduction mechanisms in high-k dielectric stacks as a tool to study electrically active defects
Autori: Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel  
Godina: 2017
Publikacija: Facta universitatis - series: Electronics and Energetics
ISSN: 0353-3670 Facta Universitatis: Series Electronics and Energetics Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 30 br. 4 str. 511-548
DOI: 10.2298/fuee1704511p
WoS-ID: 000418505200004
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/180643
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24

9
OpenCitations
12
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.