Rezultati

eNauka >  Rezultati >  MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORS
Naziv : MODELING AND PSPICE SIMULATION OF RADIATION STRESS INFLUENCE ON THRESHOLD VOLTAGE SHIFTS IN P-CHANNEL POWER VDMOS TRANSISTORS
Autori: Marjanović, Miloš  ; Danković, Danijel  ; Davidović, Vojkan  ; Prijić, Aneta  ; Stojadinović, Ninoslav ; Prijić, Zoran  ; Janković, Nebojša 
Godina: 2016
Publikacija: RAD Association Journal
ISSN: 2466-4294 Radiation and Apllications Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
DOI: 10.21175/radj.2016.01.05
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/233484
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

1
OpenCitations
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.