Surface analysis of the nanostructured W-Ti thin film deposited on silicon

Results

Назив:	Surface analysis of the nanostructured W-Ti thin film deposited on silicon
Аутори:	Petrović, Suzana ; Bundaleski, Nenad ; Peruško, Davor ; Radović, Marko B.; Kovač, Janez; Mitrić, Miodrag ; Gaković, Biljana M. ; Rakočević, Zlatko Lj.
Година:	2007
Публикација:	Applied Surface Science
ISSN:	0169-4332 Applied Surface Science Претражи идентификатор
Тип резултата:	Научни чланак
Колација:	vol. 253 br. 12 str. 5196-5202
DOI:	10.1016/j.apsusc.2006.10.077
WoS-ID:	000246092900003
Scopus-ID:	2-s2.0-33847756724
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/244029 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/3189
М-категорија:	22M22 - Међународни часопис категорије M22

28
SCOPUS^TM

19
OpenCitations

24
WEB OF SCIENCE^TM

Altmetric

Dimensions

Unpaywall