Резултати
| Naziv: | Probing high-energy ion-implanted silicon by micro-Raman spectroscopy | Autori: | Kopsalis, I.   ; Paneta, Valentina; Kokkoris, Michael; Liarokapis, E.; Erich, Marko ; Petrović, Srđan M. ; Fazinic, S.; Tadić, Tonči |
Godina: | 2014 | Publikacija: | Journal of Raman Spectroscopy | ISSN: | 0377-0486 Journal of Raman Spectroscopy Pretraži identifikator1097-4555 Journal of Raman Spectroscopy Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 45 br. 8 str. 650-656 | DOI: | 10.1002/jrs.4507 | WoS-ID: | 000342205200005 | Scopus-ID: | 2-s2.0-84905870363 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/245223 https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/158 |
Projekat: | Fizika i hemija sa jonskim snopovima (RS-45006) SPIRIT - Support of Public and Industrial Research using Ion Beam Technology (EU-227012) |
M-kategorija: | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.