Резултати
eNauka >
Results >
Symbolic Analysis of Faulty Logic Circuits under Correlated Data-Dependent Gate Failures
| Title: | Symbolic Analysis of Faulty Logic Circuits under Correlated Data-Dependent Gate Failures | Authors: | Brkić, Srđan  ; Ivaniš, Predrag  ; Djordjevc, Goran; Vasic, Bane |
Issue Date: | 2014 | Publication: | TELFOR JOURNAL | ISSN: | 1821-3251 TELFOR Journal Search Idenfier |
Type: | Article | Collation: | vol. 6 br. 1 str. 2-6 | DOI: | 10.5937/telfor1401002b | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/294841 http://zaposleni.etf.bg.ac.rs/rest/sciNaucniRezultati/oai/record/2/707464 |
Metadata source: | Migracija | M-category: | 52M52 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.