Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Frequency noise level of as ion implanted TiN-Ti-Si structures
Naziv: Frequency noise level of as ion implanted TiN-Ti-Si structures
Autori: Stojanović, Milan; Jeynes, C; Bibić, Nataša M.; Milosavljević, Momir  ; Vasić, Aleksandra  ; Milošević, Zoran
Godina: 1996
Publikacija: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
ISSN: 0168-583X Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 115 br. 1-4 str. 554-556
DOI: 10.1016/0168-583X(95)01533-7
WoS-ID: A1996VC42500123
Scopus-ID: 2-s2.0-0030564489
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/329823
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/7218
https://machinery.mas.bg.ac.rs/handle/123456789/138
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

8
SCOPUSTM
7
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.