Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage

Đorić-Veljković, Snežana; Manić, Ivica; Davidović, Vojkan; Danković, Danijel; Golubović, Snežana; Stojadinović, Ninoslav

Rezultati

eNauka > Rezultati > Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage

Naziv:	Uticaj odžarivanja na oporavak električno naprezanih p-kanalnih VDMOS tranzistora snage
Autori:	Đorić-Veljković, Snežana ; Manić, Ivica ; Davidović, Vojkan ; Danković, Danijel ; Golubović, Snežana ; Stojadinović, Ninoslav
Godina:	2013
Publikacija:	57. Konferencija za ETRAN
Izdavač:	Beograd : Društvo za ETRAN
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-86-80509-67-9 Pretraži identifikator
Kolacija:	str. MO1.2-1-MO1.2-6
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/345826
URL:	http://etran.etf.rs/etran2013/Radovi
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.