Резултати

еНаука >  Резултати >  Raman scattering analysis of silicon dioxide single crystal treated by direct current plasma discharge
Назив: Raman scattering analysis of silicon dioxide single crystal treated by direct current plasma discharge
Аутори: Popović, Dušan  ; Milosavljević, Vladimir  ; Žekić, Andrijana  ; Romčević, Nebojša  ; Daniels, S.
Година: 2011
Публикација: Applied Physics Letters
ISSN: 0003-6951 Applied Physics Letters Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 98 br. 5 str. 051503-051503
DOI: 10.1063/1.3543838
WoS-ID: 000286988400012
Scopus-ID: 2-s2.0-79951503149
URI: https://physrep.ff.bg.ac.rs/handle/123456789/598
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/375778
Извор метаподатака: Migracija
М-категорија: 
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a

21
SCOPUSTM
14
OpenCitations
22
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.