Резултати

еНаука >  Резултати >  Yield analysis of partial defect tolerant bit-plane array
Назив: Yield analysis of partial defect tolerant bit-plane array
Аутори: Ćirić, Vladimir  ; Cvetković, Aleksandar ; Milentijević, Ivan  
Година: 2010
Публикација: COMPUTERS & MATHEMATICS WITH APPLICATIONS
ISSN: 0898-1221 Computers and Mathematics with Applications Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 59 br. 1 str. 98-107
DOI: 10.1016/j.camwa.2009.08.068
WoS-ID: 000274004500011
Scopus-ID: 2-s2.0-73749084287
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/399450
Извор метаподатака: Migracija
М-категорија: 
21aM21a - Водећи међународни часопис категорије M21a

6
SCOPUSTM
4
OpenCitations
4
WEB OF SCIENCETM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.