Резултати
еНаука >
Резултати >
Penetration depth of electron-doped infinite-layer Sr0.88La0.12CuO2+x thin films
| Назив: | Penetration depth of electron-doped infinite-layer Sr0.88La0.12CuO2+x thin films | Аутори: | Fruchter, L; Jovanović, Vladimir |
Година: | 2010 | Публикација: | Physical Review B | ISSN: | 1098-0121 Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics Претражи идентификатор |
Издавач: | Amer Physical Soc, College Pk | Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 82 br. 14 | DOI: | 10.1103/PhysRevB.82.144529 | WoS-ID: | 000283574200006 | Scopus-ID: | 2-s2.0-78049479451 | URI: | http://rimsi.imsi.bg.ac.rs/handle/123456789/432 https://enauka.gov.rs/handle/123456789/431870 http://prb.aps.org |
URL: | http://prb.aps.org | Пројекат: | ANRFrench National Research Agency (ANR) [ANR-07-BLAN-0242-CSD 4] | М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.