Rezultati

eNauka >  Rezultati >  The fixed oxide trap modelling during isothermal and isochronal annealing of irradiated RADFETs
Naziv: The fixed oxide trap modelling during isothermal and isochronal annealing of irradiated RADFETs
Autori: Ristić, Goran  ; Vasović, Nikola D; Jakšić, Aleksandar B
Godina: 2012
Publikacija: Journal of Physics D: Applied Physics
ISSN: 0022-3727 Journal of Physics. D: Applied Physics Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 45 br. 30 str. 305101-305101
DOI: 10.1088/0022-3727/45/30/305101
WoS-ID: 000306475200003
Scopus-ID: 2-s2.0-84863749238
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/446491
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

10
SCOPUSTM
11
OpenCitations
11
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.