Testing Capacitors Hard Defects in Notch SC Filters Using the Oscillation Method

Sokolović, Miljana; Litovski, Vančo

Rezultati

eNauka > Rezultati > Testing Capacitors Hard Defects in Notch SC Filters Using the Oscillation Method

Naziv:	Testing Capacitors Hard Defects in Notch SC Filters Using the Oscillation Method
Autori:	Sokolović, Miljana ; Litovski, Vančo
Godina:	2014
Publikacija:	Small System Simulation Symposium
Izdavač:	Innovation Centre of Advanced TEchnologies and the Faculty of Electronic Engineering, Srbija
Tip rezultata:	Konferencijski rad
ISBN:	978-86-6125-098-9 Pretraži identifikator
Kolacija:	str. 30-36
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/483192
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.