Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Simulation-based Comparison of Energy Deposition Pathways in Neutron-irradiated TiO2 Memristors
Naziv: Simulation-based Comparison of Energy Deposition Pathways in Neutron-irradiated TiO2 Memristors
Autori: Milan Vujović; Milutinović, Slobodan M.  ; Vujisić, Miloš Lj. 
Godina: 2017
Publikacija: 4th International Conference on Electrical, Electronic and Computing Engineering, IcETRAN 2017
Izdavač: Kladovo
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 978-86-7466-692-0 Pretraži identifikator
Kolacija: str. pp. NTI 2.5 1-pp. NTI 2.5 5
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/502361
URL: https://www.etran.rs/common/pages/proceedings/IcETRAN2017/NTI/IcETRAN2017_paper_NTI2_5.pdf
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI


Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.