Rezultati
eNauka >
Rezultati >
Simulation-based Comparison of Energy Deposition Pathways in Neutron-irradiated TiO2 Memristors
| Naziv: | Simulation-based Comparison of Energy Deposition Pathways in Neutron-irradiated TiO2 Memristors | Autori: | Milan Vujović; Milutinović, Slobodan M. |
Godina: | 2017 | Publikacija: | 4th International Conference on Electrical, Electronic and Computing Engineering, IcETRAN 2017 | Izdavač: | Kladovo | Tip rezultata: | Konferencijski rad | ISBN: | 978-86-7466-692-0 Pretraži identifikator |
Kolacija: | str. pp. NTI 2.5 1-pp. NTI 2.5 5 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/502361 | URL: | https://www.etran.rs/common/pages/proceedings/IcETRAN2017/NTI/IcETRAN2017_paper_NTI2_5.pdf | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.