Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Changes in composite nc-Si-SiO2 thin films caused by 20 MeV electron irradiation
Naziv: Changes in composite nc-Si-SiO2 thin films caused by 20 MeV electron irradiation
Autori: Nesheva, Diana; Petrik, Peter; Hristova-Vasileva, Temenuga; Fogarassy, Zsolt; Kalas, Benjamin; Šćepanović, Maja ; Kaschieva, Sonia; Dmitriev, Sergei N.; Antonova, Krassimira
Godina: 2019
Publikacija: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
ISSN: 0168-583X Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 458 str. 159-163
DOI: 10.1016/j.nimb.2019.05.035
WoS-ID: 000486134400024
Scopus-ID: 2-s2.0-85066106798
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/524299
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

4
SCOPUSTM
1
OpenCitations
4
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.