Results

eNauka >  Results >  Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima
Title: Određivanje perioda pouzdanog rada p-kanalnih VDMOS tranzistora snage podvrgnutih kontinualnim i impulsnim NBT naprezanjima
Authors: Danković, Danijel  ; Prijić, Aneta  ; Manić, Ivica  ; Davidović, Vojkan  ; Golubović, Snežana ; Prijić, Zoran  ; Stojadinović, Ninoslav ; Đorić-Veljković, Snežana  
Issue Date: 2012
Publication: Elektronski zbornik radova 56. konferencije ETRAN
Publisher: Beograd : ETRAN
Type: Conference Paper
ISBN: 978-86-80509-67-9 Search Idenfier
Collation: str. MO1.1-1-MO1.1-4
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/551792
URL: http://etran.etf.rs/index_e.html
Metadata source: Migrirano iz RIS podataka
M-category: 
Mp. category will be shown later

Find the DOI

Google ScholarTM

Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.