Резултати

еНаука >  Резултати >  Sensitivity of Unbiased Commercial P-channel Power VDMOSFETs to X-ray Radiation
Назив: Sensitivity of Unbiased Commercial P-channel Power VDMOSFETs to X-ray Radiation
Аутори: Ristić, Goran  ; Jevtić, Aleksandar; Ilić, Stefan  ; Dimitrijević, Strahinja; Veljković, Sandra  ; Palma, Alberto; Stanković, Srboljub  ; Anđelković, Marko 
Година: 2021
Публикација: 2021 IEEE 32nd International Conference on Microelectronics (MIEL)
ISSN: 2159-1679 Претражи идентификатор
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 978-1-6654-4529-0 Претражи идентификатор
Колација: str. 341-344
DOI: 10.1109/MIEL52794.2021.9569096
Scopus-ID: 2-s2.0-85118448524
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/584527
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/10021
Пројекат: Заједничка истраживања мерења и утицаја јонизујућег и УВ зрачења у области медицине и заштите животне средине
ELICSIR - Enhancement of Sceintific Excellence and Innovation Potential in Electronic Instrumentation for Ionising Radiation Environments
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

5
SCOPUSTM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.