Rezultati

eNauka >  Rezultati >  The voltage pulse degraded Ti/4H-SiC Schottky diodes studied with I-V and low frequency noise measurements
Naziv: The voltage pulse degraded Ti/4H-SiC Schottky diodes studied with I-V and low frequency noise measurements
Autori: Hadzi-Vukovic, Jovan M; Jevtic, Milan M
Godina: 2007
Publikacija: DIAMOND AND RELATED MATERIALS
ISSN: 0925-9635 Diamond and Related Materials Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 16 br. 1 str. 81-89
DOI: 10.1016/j.diamond.2006.03.016
WoS-ID: 000243618000012
Scopus-ID: 2-s2.0-33751374972
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/799284
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

3
SCOPUSTM
1
OpenCitations
3
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.