Results

eNauka >  Rezultati >  Time-of-Flight Measurements of Heavy Ions Using Si PIN Diodes
Naziv: Time-of-Flight Measurements of Heavy Ions Using Si PIN Diodes
Autori: Strekalovsky, AO; Kamanin, DV; Pyatkov, Yu V; Kondratyev, NA; Zhuchko, VE; Ilic, S; Alexandrov, AA; Alexandrova, IA; Jacobs, N; Kuznetsova, EA;
Godina: 2016
Publikacija: PHYSICS OF ATOMIC NUCLEI
ISSN: 1063-7788 Physics of Atomic Nuclei Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 79 br. 9-10 str. 1386-1390
DOI: 10.1134/S1063778816090131
WoS-ID: 000396890100004
Scopus-ID: 2-s2.0-85015805563
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/815157
Projekat: Russian Foundation for Basic Research [14-0293960]
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23

Altmetric
Dimensions
Unpaywall

Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.