Results

eNauka >  Results >  Evaluation of techniques for characterizing virgin and gamma-irradiated power VDMOSFETs
Naziv: Evaluation of techniques for characterizing virgin and gamma-irradiated power VDMOSFETs
Autori: Mileusnic, S; Zivanov, Milos B; Habas, P
Godina: 2002
Publikacija: MICROELECTRONICS JOURNAL
ISSN: 0026-2692 Microelectronics Journal Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 33 br. 11 str. 921-928
DOI: 10.1016/S0026-2692(02)00119-2
WoS-ID: 000179487900007
Scopus-ID: 2-s2.0-0036859406
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/816612
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22

3
SCOPUSTM
3
OpenCitations
3
WEB OF SCIENCETM
Altmetric
Dimensions
Unpaywall

Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.