Results

eNauka >  Rezultati >  Influence of ionizing radiation and hot carrier injection on metal-oxide-semiconductor transistors
Naziv: Influence of ionizing radiation and hot carrier injection on metal-oxide-semiconductor transistors
Autori: Ristic, Goran S  
Godina: 2008
Publikacija: JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS
ISSN: 0022-3727 Journal of Physics. D: Applied Physics Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 41 br. 2 str. 023001-023001
DOI: 10.1088/0022-3727/41/2/023001
WoS-ID: 000253177600006
Scopus-ID: 2-s2.0-38049078630
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/823753
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

37
SCOPUSTM
25
OpenCitations
29
WEB OF SCIENCETM
Altmetric
Dimensions
Unpaywall

Items in eNauka are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.