Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Fowler-Nordheim high electric field stress of power VDMOSFETs
Naziv: Fowler-Nordheim high electric field stress of power VDMOSFETs
Autori: Ristic, Goran S  ; Pejovic, Momcilo M; Jaksic, Aleksandar B
Godina: 2005
Publikacija: SOLID-STATE ELECTRONICS
ISSN: 0038-1101 Solid-state Electronics Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 49 br. 7 str. 1140-1152
DOI: 10.1016/j.sse.2005.05.002
WoS-ID: 000230709100013
Scopus-ID: 2-s2.0-21444433480
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/825625
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

15
SCOPUSTM
13
OpenCitations
12
WEB OF SCIENCETM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.