Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and Irradiation
Naziv: Effects in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors Initiated by Negative Bias Temperature Stress and Irradiation
Autori: Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Živanović, Emilija  ; Stanković, Srboljub  ; Anđelković, Marko ; Ristić, Goran  ; Paskleva, Albena;
Spassov, Dentcho; Danković, Danijel  ;
Godina: 2023
Publikacija: MIEL : 33rd International Conference on Microelectronics : Proceedings book
Izdavač: Niš : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 979-8-3503-4776-0 Pretraži identifikator
Kolacija: str. 277-280
DOI: 10.1109/MIEL58498.2023.10315932
WoS-ID: 001701718400058
Scopus-ID: 2-s2.0-85183084911
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/861632
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/12120
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

2
SCOPUSTM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.