Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Consecutive Irradiation and Thermal Annealing of Commercial P-Channel Power VDMOSFETs
Naziv: Consecutive Irradiation and Thermal Annealing of Commercial P-Channel Power VDMOSFETs
Autori: Mitrović, Nikola  ; Guirado, D.; Danković, Danijel  ; Palma, Alberto; Ristić, Goran  ; Carvajal, Miguel
Godina: 2023
Publikacija: 2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics (MIEL)
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 979-8-3503-4776-0 Pretraži identifikator
Kolacija: str. 1-4
DOI: 10.1109/MIEL58498.2023.10315908
WoS-ID: 001701718400057
Scopus-ID: 2-s2.0-85183083385
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889217
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz CrossRef-a) Danković, Danijel
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

1
SCOPUSTM
Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.