Резултати
| Назив: | SPICE Modeling of RADFETs with Different Gate Oxide Thicknesses | Аутори: | Marjanović, Miloš   ; Gürer, U.; Mitrović, Nikola ; Yilmaz, O.; Danković, Danijel ; Budak, E.; Ristić, Goran ; Yilmaz, Ercan |
Година: | 2023 | Публикација: | 2023 IEEE 33rd International Conference on Microelectronics (MIEL) | Тип резултата: | Конференцијски рад | ISBN: | 979-8-3503-4776-0  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 1-4 | DOI: | 10.1109/MIEL58498.2023.10315808 | Scopus-ID: | 2-s2.0-85183083250 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/889219 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Danković, Danijel | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall
Google ScholarTM
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.