Threshold voltage shift in irradiated and pulsed NBT stressed p-channel VDMOS transistors

Mitrović, Nikola; Veljković, Sandra; Davidović, Vojkan; Đorić Veljković, Snežana; Golubović, Snežana; Živanović, Emilija; Prijić, Zoran; Danković, Danijel

Резултати

еНаука > Резултати > Threshold voltage shift in irradiated and pulsed NBT stressed p-channel VDMOS transistors

Назив:	Threshold voltage shift in irradiated and pulsed NBT stressed p-channel VDMOS transistors
Аутори:	Mitrović, Nikola ; Veljković, Sandra ; Davidović, Vojkan ; Đorić Veljković, Snežana ; Golubović, Snežana ; Živanović, Emilija ; Prijić, Zoran ; Danković, Danijel
Година:	2023
Публикација:	Elicsir Project Symposium, Nis, Serbia, 25-27 January 2023
Тип резултата:	Конференцијски рад
Колација:	str. 48-48
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/893500
URL:	http://www.symp.elicsir-project.eu/book_of_abstracts.php
Извор метаподатака:	(Preuzeto iz ORCID-a) Veljković, Sandra
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.