Simulation of a QMS with an electron impact ion source including pressure dependence

Sreekumar, J.; Brkić, Boris; France, N.; Hogan, T. J.; Gibson, J. R.; Taylor, S.

Rezultati

eNauka > Rezultati > Simulation of a QMS with an electron impact ion source including pressure dependence

Naziv:	Simulation of a QMS with an electron impact ion source including pressure dependence
Autori:	Sreekumar, J.; Brkić, Boris ; France, N.; Hogan, T. J.; Gibson, J. R.; Taylor, S.
Godina:	2008
Publikacija:	30th British Mass Spectrometry Society (BMSS) Annual Meeting, York, UK, September 8-10
Tip rezultata:	Konferencijski rad
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/939870
Izvor metapodataka:	(Preuzeto iz KNR-a) Brkić, Boris
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.