Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Primena 3D planarnog RRN modela u analizi degradacija debeloslojnih otporonika izloženih visokonaponskom impulsnom naprezanju
Naziv: Primena 3D planarnog RRN modela u analizi degradacija debeloslojnih otporonika izloženih visokonaponskom impulsnom naprezanju
Application of 3D planar RRN modela in degradation analysis of thick-film resistors subjected to high-voltage pulse stressing
Autori: Stanimirović, Ivanka  ; Stanimirović, Zdravko  
Godina: 2005
Publikacija: ETRAN : XLIX konferencija za ETRAN : Zbornik radova
Izdavač: Beograd : Društvo za elektroniku, telekomunikacije, računarstvo, automatiku i nuklearnu tehniku
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 86-80509-53-1 Pretraži identifikator
Kolacija: br. 4 str. 122-124
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/970064
https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/14454
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI


Google ScholarTM

Creative Commons licenca