Rezultati
| Naziv: | Editorial Thematic Issue on Failure Mechanisms in Microelectronic Devices | Autori: | Dankovic, Danijel M | Godina: | 2024 | Publikacija: | FACTA UNIVERSITATIS-SERIES ELECTRONICS AND ENERGETICS | ISSN: | 0353-3670 Facta Universitatis: Series Electronics and Energetics Pretraži identifikator |
Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 37 br. 4 | WoS-ID: | 001382894500001 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/992016 | Izvor metapodataka: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | M-kategorija: | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.