Резултати

еНаука >  Резултати >  Editorial Thematic Issue on Failure Mechanisms in Microelectronic Devices
Назив: Editorial Thematic Issue on Failure Mechanisms in Microelectronic Devices
Аутори: Dankovic, Danijel M
Година: 2024
Публикација: FACTA UNIVERSITATIS-SERIES ELECTRONICS AND ENERGETICS
ISSN: 0353-3670 Facta Universitatis: Series Electronics and Energetics Претражи идентификатор
Тип резултата: Научни чланак
Колација: vol. 37 br. 4
WoS-ID: 001382894500001
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/992016
Извор метаподатака: (Preuzeto iz Nasi u WoS)
М-категорија: 
23M23 - Међународни часопис категорије M23

Пронађи DOI


Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.