eNauka - pregled
Pregled prema Autor A. Zekic
Prikaz rezultata 1 do 2 od 2
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2010 | Measurement of the dielectric properties of SiO2 wafers using optical spectroscopy | Milosavljević, Vladimir   ; Popović, Dušan ; A. Zekic | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2010 | Treatment of SiO2 single crystal wafer by a Low Pressure Plasma Discharge | Milosavljević, Vladimir ; Popović, Dušan ; A. Zekic; N. Macgearailt; S. Daniels | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |