Measurement of the dielectric properties of SiO2 wafers using optical spectroscopy

Milosavljević, Vladimir; Popović, Dušan; A. Zekic

Резултати

еНаука > Резултати > Measurement of the dielectric properties of SiO2 wafers using optical spectroscopy

Назив:	Measurement of the dielectric properties of SiO2 wafers using optical spectroscopy
Аутори:	Milosavljević, Vladimir ; Popović, Dušan ; A. Zekic
Година:	2010
Публикација:	AVS 57th International Symposium & Exhibition 2010
Издавач:	AVS, Albuquerque, New Mexico, USA
Тип резултата:	Конференцијски рад
Колација:	str. 118-118
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/337382
Извор метаподатака:	Migrirano iz RIS podataka
М-категорија:	Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI

Проналажење DOI у сервису CrossRef-у на основу мета-података у запису. Приказаће се DOI (и метаподаци) чији се подаци највише поклапају. ОПРЕЗ - то не мора бити та публикација.

Google Scholar^TM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.