Measurement of the dielectric properties of SiO2 wafers using optical spectroscopy

Milosavljević, Vladimir; Popović, Dušan; A. Zekic

Rezultati

eNauka > Rezultati > Measurement of the dielectric properties of SiO2 wafers using optical spectroscopy

Naziv:	Measurement of the dielectric properties of SiO2 wafers using optical spectroscopy
Autori:	Milosavljević, Vladimir ; Popović, Dušan ; A. Zekic
Godina:	2010
Publikacija:	AVS 57th International Symposium & Exhibition 2010
Izdavač:	AVS, Albuquerque, New Mexico, USA
Tip rezultata:	Konferencijski rad
Kolacija:	str. 118-118
URI:	https://enauka.gov.rs/handle/123456789/337382
Izvor metapodataka:	Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija:	Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI

Pronalaženje DOI u servisu CrossRef-u na osnovu meta-podataka u zapisu. Prikazaće se DOI (i metapodaci) čiji se podaci najviše poklapaju. OPREZ - to ne mora biti ta publikacija.

Google Scholar^TM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.