еНаука - преглед
Преглед према Аутор Paskaleva, Albena
Приказ резултата 1 до 10 од 10
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2021 | A Review of the Electric Circuits for NBTI Modeling in p-Channel Power VDMOSFETs![]() | Danković, Danijel | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Characterization of the Electric Breakdowns in Metal-Insulator-Silicon Capacitor Structures with HfO2/Al2O3 Layers for Non-Volatile Memory Applications![]() | Spassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elzbieta; Ivanov, Tz.; Stanchev, T.; Davidović, Vojkan | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2017 | Consideration of conduction mechanisms in high-k dielectric stacks as a tool to study electrically active defects | Paskaleva, Albena; Spassov, Dencho; Danković, Danijel | Naučni članak | 24M24 - Vodeći nacionalni časopis kategorije M24 |
| 2021 | Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2023 | Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETs![]() | Veljković, Sandra | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2019 | Impact of γ Radiation on Charge Trapping Properties of Nanolaminated HfO2/Al2O3 ALD Stacks![]() | Spassov, Dentcho; Paskaleva, Albena; Davidović, Vojkan S. | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2026 | Influence of controlling signal parameters and prior stresses on the self-heating of VDMOS power transistors | Veljkovic, S | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
| 2021 | Radiation Tolerance and Charge Trapping Enhancement of ALD HfO2/Al2O3 Nanolaminated Dielectrics![]() | Spassov, Dencho; Paskaleva, Albena; Guziewicz, Elżbieta; Davidović, Vojkan | Naučni članak | 21aM21a - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21a |
| 2025 | Recovery Behavior of VDMOS Transistors under Sequential Irradiation and NBT Stress![]() | Đorić-Veljković, Snežana | Konferencijski rad | Mp kategorija će biti prikazana naknadno. |
| 2022 | Response of Commercial P-Channel Power VDMOS Transistors to Ionizing Irradiation and Bias Temperature Stress![]() | Veljković, Sandra | Naučni članak | 22M22 - Međunarodni časopis kategorije M22 |
