Резултати

еНаука >  Резултати >  Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors
Назив: Effects of Bias Temperature Stress and Irradiation in Commercial p-Channel Power VDMOS Transistors
Аутори: Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Đorić-Veljković, Snežana  ; Davidović, Vojkan  ; Manić, Ivica  ; Golubović, Snežana ; Paskaleva, Albena; Spassov, Dentcho; Prijić, Zoran  ; Prijić, Aneta  ;
Stanković, S.  ; Danković, Danijel  ;
Година: 2021
Публикација: 2021 IEEE 32nd International Conference on Microelectronics (MIEL)
Издавач: Nis, Serbia : IEEE
Тип резултата: Конференцијски рад
Колација: str. 345-350
DOI: 10.1109/miel52794.2021.9569154
Scopus-ID: 2-s2.0-85118457875
URI: https://vinar.vin.bg.ac.rs/handle/123456789/12119
https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776671
URL: http://dx.doi.org/10.1109/miel52794.2021.9569154
Извор метаподатака: (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

3
SCOPUSTM
Алт метрика
Dimensions
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.