Резултати

еНаука >  Резултати >  Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETs
Назив: Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETs
Аутори: Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Paskaleva, Albena; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  
Година: 2023
Публикација: RAD conference 2023
Издавач: {RAD} Centre
Тип резултата: Конференцијски рад
DOI: 10.21175/rad.abstr.book.2023.33.4
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776664
Извор метаподатака: (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Алт метрика
Dimensions

Пронађи DOI
Unpaywall

Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.