Rezultati

eNauka >  Rezultati >  Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETs
Naziv: Effects of self-heating and NBTI-induced stress on p-channel power VDMOSFETs
Autori: Veljković, Sandra  ; Mitrović, Nikola  ; Jovanović, Igor  ; Živanović, Emilija  ; Paskaleva, Albena; Ristić, Goran  ; Danković, Danijel  
Godina: 2023
Publikacija: RAD conference 2023
Izdavač: {RAD} Centre
Tip rezultata: Konferencijski rad
DOI: 10.21175/rad.abstr.book.2023.33.4
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/776664
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz ORCID-a) Mitrovic, Nikola
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Alt metrika
Dimensions

Pronađi DOI
Unpaywall

Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.