еНаука - преглед
Преглед према Аутор A. Zekic
Приказ резултата 1 до 2 од 2
| Година | Наслов | Аутор(и) | Тип резултата | Мп-кат. |
|---|---|---|---|---|
| 2010 | Measurement of the dielectric properties of SiO2 wafers using optical spectroscopy | Milosavljević, Vladimir   ; Popović, Dušan ; A. Zekic | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
| 2010 | Treatment of SiO2 single crystal wafer by a Low Pressure Plasma Discharge | Milosavljević, Vladimir ; Popović, Dušan ; A. Zekic; N. Macgearailt; S. Daniels | Конференцијски рад | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |