eNauka - pregled
Pregled prema Autor Tong, KY
Prikaz rezultata 1 do 3 od 3
| Godina | Naslov | Autor(i) | Tip rezultata | Mp-kat. |
|---|---|---|---|---|
| 2006 | Noise and structural properties of reactively sputtered RuO2 thin films | Jevtic, Milan M; Jelenkovic, Emil V; Tong, KY; Pang, GKH | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2007 | On temperature coefficient of resistance of boron-doped SiGe films deposited by sputtering | Jelenkovic, Emil V; Jevtic, Milan M; Tong, KY; Pang, GKH; Cheung, WY; Jha, Shrawan K | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |
| 2009 | Stability of submicron AlGaN/GaN HEMT devices irradiated by gamma rays | Jha, Shrawan K; Jelenkovic, Emil V; Pejovic, Milic M   ; Ristic, Goran S ; Pejovic, Momcilo M; Tong, KY; Surya, C; Bello, I; Zhang, WJ | Naučni članak | 21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21 |