Резултати
еНаука >
Резултати >
On temperature coefficient of resistance of boron-doped SiGe films deposited by sputtering
| Назив: | On temperature coefficient of resistance of boron-doped SiGe films deposited by sputtering | Аутори: | Jelenkovic, Emil V; Jevtic, Milan M; Tong, KY; Pang, GKH; Cheung, WY; Jha, Shrawan K | Година: | 2007 | Публикација: | MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING | ISSN: | 1369-8001 Materials Science in Semiconductor Processing Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 10 br. 4-5 str. 143-149 | DOI: | 10.1016/j.mssp.2007.08.001 | WoS-ID: | 000255256000002 | Scopus-ID: | 2-s2.0-40949141104 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/805004 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz Nasi u WoS) | М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.