Резултати
| Назив: | Reliability Characterization of n-channel VDMOSFET on Elevated Temperatures | Аутори: | Aleksić, Sanja   ; Pantić, Dragan ; Branković, Neda ; Pantić, Aleksandar ; Petković, Adriana |
Година: | 2025 | Публикација: | First RESIST Workshop: Cross-Layer Reliability Assessment of Electronic Systems – RESIST, Niš, Serbia, 5-7 May 2025 | Издавач: | Niš : Elektronski fakultet | Тип резултата: | Информативни прилог | ISBN: | 978-86-6125-285-3  Претражи идентификатор |
Колација: | str. 18 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1012987 | URL: | https://mikro.elfak.ni.ac.rs/wp-content/uploads/First-RESIST-Workshop-AGENDA-1.pdf | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz ORCID-a) Branković, Neda | М-категорија: | Мп категорија ће бити приказана накнадно. |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.