Rezultati

eNauka >  Rezultati >  A Technique for the Characterization of the X-Ray-Induced Leakage Path in a Linear Voltage Regulator
Naziv : A Technique for the Characterization of the X-Ray-Induced Leakage Path in a Linear Voltage Regulator
Autori: Vukić, Vladimir D.  
Godina: 2026
Publikacija: IEEE Access
ISSN: 2169-3536 IEEE Access Pretraži identifikator
Tip rezultata: Naučni članak
Kolacija: vol. 14 str. 47270-47288
DOI : 10.1109/access.2026.3676707
WoS-ID : 001731023500022
Scopus-ID: 2-s2.0-105034678486
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1037501
Izvor metapodataka: (Preuzeto iz CrossRef-a) Vukić, Vladimir
M-kategorija: 
21M21 - Vodeći međunarodni časopis kategorije M21

Alt metrika
Dimensions
Unpaywall

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.