Резултати
еНаука >
Резултати >
A Technique for the Characterization of the X-Ray-Induced Leakage Path in a Linear Voltage Regulator
Назив  : | A Technique for the Characterization of the X-Ray-Induced Leakage Path in a Linear Voltage Regulator | Аутори: | Vukić, Vladimir D.   |
Година: | 2026 | Публикација: | IEEE Access | ISSN: | 2169-3536 IEEE Access Претражи идентификатор |
Тип резултата: | Научни чланак | Колација: | vol. 14 str. 47270-47288 | DOI  : | 10.1109/access.2026.3676707 | WoS-ID : | 001731023500022 | Scopus-ID: | 2-s2.0-105034678486 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/1037501 | Извор метаподатака: | (Preuzeto iz CrossRef-a) Vukić, Vladimir | М-категорија: | 21M21 - Водећи међународни часопис категорије M21 |
Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.