Резултати

еНаука >  Резултати >  A Comprehensive and Critical Overview of the Kink Effect in S22 for HEMT Technology
Назив: A Comprehensive and Critical Overview of the Kink Effect in S22 for HEMT Technology
Аутори: Giovanni Crupi; Antonio Raffo; Marinković, Zlatica D.  ; Dominique M. M.-P. Schreurs; Alina Caddemi
Година: 2019
Публикација: 14th International Conference on Advanced Technologies Systems and Services in Telecommunications - TELSIKS 2019
Издавач: Nis, Serbia
Тип резултата: Конференцијски рад
ISBN: 281-0877-3 ИСБН није валидан Претражи идентификатор
Колација: str. 13-20
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/146182
Извор метаподатака: Migrirano iz RIS podataka
М-категорија: 
Мп категорија ће бити приказана накнадно.

Пронађи DOI


Google ScholarTM

Резултати на еНаука су заштићени ауторским правима и сва права су задржана, осим ако није другачије назначено.