Rezultati

eNauka >  Rezultati >  A Comprehensive and Critical Overview of the Kink Effect in S22 for HEMT Technology
Naziv: A Comprehensive and Critical Overview of the Kink Effect in S22 for HEMT Technology
Autori: Giovanni Crupi; Antonio Raffo; Marinković, Zlatica D.  ; Dominique M. M.-P. Schreurs; Alina Caddemi
Godina: 2019
Publikacija: 14th International Conference on Advanced Technologies Systems and Services in Telecommunications - TELSIKS 2019
Izdavač: Nis, Serbia
Tip rezultata: Konferencijski rad
ISBN: 281-0877-3 ИСБН није валидан Pretraži identifikator
Kolacija: str. 13-20
URI: https://enauka.gov.rs/handle/123456789/146182
Izvor metapodataka: Migrirano iz RIS podataka
M-kategorija: 
Mp kategorija će biti prikazana naknadno.

Pronađi DOI


Google ScholarTM

Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.