Rezultati
| Naziv: | Measurement of NBTI Degradation in p-channel Power VDMOSFETs | Autori: | Manić, Ivica Đ.   ; Danković, Danijel ; Prijić, Aneta ; Prijić, Zoran ; Stojadinović, Ninoslav D. |
Godina: | 2014 | Publikacija: | Informacije Midem. Journal of Microelectronics, Electric Components and Materials | ISSN: | 0352-9045 Informacije Midem. Journal of Microelectronics, Electric Components and Materials Pretraži identifikator |
Izdavač: | MIDEM - Society for Microelectronics, Electronic Components and Materials | Tip rezultata: | Naučni članak | Kolacija: | vol. 44 br. 4 str. 280-287 | WoS-ID: | 000347315800003 | URI: | https://enauka.gov.rs/handle/123456789/149981 | URL: | http://www.midem-drustvo.si/Journal%20papers/MIDEM_44(2014)4p280.pdf | Izvor metapodataka: | Migrirano iz RIS podataka | M-kategorija: | 23M23 - Međunarodni časopis kategorije M23 |
10
WEB OF SCIENCETM
Rezultati na eNauka su zaštićeni autorskim pravima i sva prava su zadržana, osim ako nije drugačije naznačeno.